
X射線檢查設備相關產品
TUX-3300N
納米焦點X射線顯微鏡檢查裝置
分辨率0.4μm的開放感X線源(TX-320)搭載,微型電子部件到實裝基板都能使用的納米焦點X射線顯微鏡檢查裝置
■焦點尺寸0.25μm,配備我公司自主研發的開放管X線源,能切換5種大小分辨率(0.4μm/0.6μm/1μm/2μm/3μm),而且,可以對現階段開發中的高分辨率X線源升級 ■采用筐體設計,提高使用性
■高速檢查機械應對功能和半自動檢查機功能
■探測器最大傾斜角度60° ,載物臺尺寸,直徑400mm


















